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测量/计量仪器
编码器芯片AM4096
编码器模块RMB28
编码器RMC
编码器RM44
SiGNUM™系列智能光栅新增FANUC通信接口
FASTRACK ™直线光栅系统
RESOLUTE™绝对式直线光栅及圆光栅系统
测量点的精度
OMP400紧凑、坚固性和精度的完美组合
RMP600新型紧凑型触发式测头为多种加工中心提供高精度测量
光谱检测分析仪
雷尼绍Virsa拉曼分析仪
RA816生物分析仪
Renishaw Raman-AFM联用系统
Renishaw Raman-SEM联用系统
inVia Qontor显微拉曼光谱仪
inVia Basis显微拉曼光谱仪
雷尼绍RA802药物分析仪
inVia Reflex显微拉曼光谱仪
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产品描述
您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜(SPM和AFM)联用,在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。
联用系统优势:
原位测量。无需在不同仪器之间移动样品,节约时间,保证正确的分析区域。
inVia和SPM/AFM可同时作为独立系统使用,而不会影响两者的任何性能。
得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力,以识别材料和非金属化合物。
可实现针尖增强拉曼测量(TERS),获得纳米尺度的化学信息。
选择**的系统:
雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有极大的灵活性,能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上:
Bruker Nano Surfaces
Nanonics
NT-MDT
JPK
Park